French - English technical dictionary

concurrence critique
race condition
information technology and data processing / electronics and electrical engineering - acta.es iate.europa.eu
Le procédé comprend en outre la collecte des données de test de condition de concurrence critique et l'évaluation des données de test de condition de concurrence critique.

The method further includes collecting the race condition testing data and evaluating the collected race condition testing data.

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Les données de test de condition de concurrence critique sont corrélées à une variation du processus de fabrication de l'au moins une puce.

The race condition testing data is correlated to a process variation of the at least one die.

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Dans un mode de réalisation particulier, le procédé consiste à faire fonctionner un circuit à de multiples niveaux de tension d'alimentation afin de générer des données de test de condition de concurrence critique.

In a particular embodiment, the method includes operating a circuit at multiple supply voltage levels to generate race condition testing data.

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La présente invention porte sur un procédé (100) pour détecter une concurrence critique d'une tâche parallèle lors d'un accès à une ressource partagée (403) dans un système de traitement multicœur.

A method (100) is provided for detecting a race condition of a parallel task when accessing a shared resource (403) in a multi-core processing system.

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Un second aspect de l'invention concerne un procédé à mettre en œuvre dans un nœud d'ancrage de mobilité qui détecte si une concurrence critique entre des messages d'enregistrement se produit ou non et résout l'emplacement le plus récent d'un nœud mobile.

A second aspect of the invention relates to a method to be implemented in a mobility anchor node, which detects whether a race condition between registration messages occurs and resolves the most recent location of a mobile node.

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French - English translation in context

Le circuit est disposé sur au moins une puce d'une plaquette et comprend au moins un circuit de trajets de concurrence critique comportant au moins deux trajets.

The circuit is disposed on at least one die of a wafer and includes at least one racing path circuit having at least two paths.

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