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TECHDICO

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microscopie électronique

TRADUCTION MOT A MOT / WORD-FOR-WORD TRANSLATION
microscopie: microscopymicroscopie / microscopy - acta.es

électronique: electronics sciences / sciences - techdico

GLOSSAIRE / GLOSSARY
microscopie électronique

electron microscopy

microscopie / microscopy - acta.es
microscopie électronique

electron micrography

santé / health - iate.europa.eu // santrans.net
microscopie électronique

electron miscroscopy

santé / health - iate.europa.eu // santrans.net
microscopie électronique

EM

santé / health - iate.europa.eu // santrans.net

TRADUCTION EN CONTEXTE / TRANSLATION IN CONTEXT

modélisation d'une extraction cd en microscopie électronique à balayage (cd-sem) à dimension critique

modeling critical-dimension (cd) scanning-electron-microscopy (cd-sEM) cd extraction

brevets / patents - wipo.int

histologie et microscopie électronique pour détecter des signes de maladies. recherche taxonomique. recherche biomédicale

Histology and electron microscopy to detect signs of disease. taxonomic research. biomedical research

général / general - eur-lex.europa.eu

appareil et procédé comprenant un détecteur de bombardement direct et un détecteur secondaire pour une utilisation en microscopie électronique

apparatus and method including a direct bombardment detector and a secondary detector for use in electron microscopy

brevets / patents - wipo.int

la présente invention concerne un montage optique et, en particulier, sur un montage optique destiné à être utilisé dans des applications de microscopie électronique

the present invention relates to an optical arrangEMent and in particular to an optical arrangEMent for use in electron microscopy applications

brevets / patents - wipo.int

dans un mode de réalisation, l'invention concerne un procédé de modélisation d'extraction CD en microscopie électronique à balayage (CD-SEM) à dimension critique pendant l'étalonnage d'un procédé photolithographique

one EMbodiment of the present invention relates to a process that models critical-dimension (CD) scanning-electron-microscopy (CD-SEM) extraction during photolithography process model calibration

brevets / patents - wipo.int






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