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TECHDICO

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microscopie électronique à balayage

TRADUCTION MOT A MOT / WORD-FOR-WORD TRANSLATION
microscopie: microscopymicroscopie / microscopy - acta.es

électronique: electronics sciences / sciences - techdico

balayage: scavenginggénéral / general - techdico
scantélécom / telecom - acta.es
scanningordinateur / computer - acta.es
sweepmécanique / mechanical - techdico
scavenging processmécanique / mechanical - techdico
scopingdroit administratif / administrative law - iate.europa.eu // santrans.net
sweeping outfer / iron - iate.europa.eu // santrans.net
purge cyclecomposé chimique / chemical compound - iate.europa.eu // santrans.net
traceélectronique et électrotechnique / electronics and electrical engineering - iate.europa.eu // santrans.net
slewingsciences de la terre / earth sciences - iate.europa.eu // santrans.net

GLOSSAIRE / GLOSSARY
microscopie électronique à balayage

scanning electron microscopy

microscopie / microscopy - acta.es
microscopie électronique à balayage

scanning electron microscopy (SEM)

électronique / electronics - acta.es
microscopie électronique à balayage

scanning electronic microscopy

mécanique / mechanical - techdico
microscopie électronique à balayage

SEM

santé / health - iate.europa.eu // santrans.net

TRADUCTION EN CONTEXTE / TRANSLATION IN CONTEXT

modélisation d'une extraction cd en microscopie électronique à balayage (cd-sem) à dimension critique

modeling critical-dimension (cd) scanning-electron-microscopy (cd-SEM) cd extraction

brevets / patents - wipo.int

dans un mode de réalisation, l'invention concerne un procédé de modélisation d'extraction CD en microscopie électronique à balayage (CD-SEM) à dimension critique pendant l'étalonnage d'un procédé photolithographique

one embodiment of the present invention relates to a process that models critical-dimension (CD) scanning-electron-microscopy (CD-SEM) extraction during photolithography process model calibration

brevets / patents - wipo.int






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