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TECHDICO

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microscope à force atomique

TRADUCTION MOT A MOT / WORD-FOR-WORD TRANSLATION
microscope: microscopemicroscopie / microscopy - acta.es

force: forcemécanique / mechanical - techdico
forcedtélécom / telecom - techdico
strength maths / mathematics - techdico
load - force - effort - strengthmécanique / mechanical - techdico
effortmécanique / mechanical - techdico
loadmécanique / mechanical - techdico
powermécanique / mechanical - lexique.mecaniqueindustrielle.com
measurement for loadélectronique et électrotechnique / electronics and electrical engineering - iate.europa.eu // santrans.net
torqueélectronique et électrotechnique / electronics and electrical engineering - iate.europa.eu // santrans.net
utility powerénergie / energy - iate.europa.eu // santrans.net


GLOSSAIRE / GLOSSARY
microscope à force atomique

atomic force microscope

microscopie / microscopy - acta.es
microscope à force atomique

AFM

sciences naturelles et appliquées / natural and applied sciences - iate.europa.eu // santrans.net

TRADUCTION EN CONTEXTE / TRANSLATION IN CONTEXT

l'invention concerne un microscope à force atomique à balayage qui peut être utilisé pour différentes analyses sur les surfaces d'échantillons

the invention relates to a scanning force microscope, which can be used for different examinations of the surfaces of samples

brevets / patents - wipo.int

le film réfléchissant en alliage d'al présente une rugosité de surface inférieure ou égale à 4 nm, telle que mesurée au microscope à force atomique

the al alloy reflective film has a film surface roughness of 4 nm or less as measured under an atomic force microscope

brevets / patents - wipo.int

le remplacement de l'extrémité de la sonde d'un microscope à sonde à balayage dans un ensemble microscope à force atomique peut ainsi être réalisé sans perte des mesures d'alignement.

replacement of a scanning probe microscope probe tip in an atomic force microscope unit may be accomplished without the loss of alignment measurements.

brevets / patents - wipo.int

dans un microscope à force atomique à balayage selon l'invention, au moins une pointe de sonde est disposée sur un levier élastique et sa zone sensible est disposée à une distance du levier élastique

in the scanning force microscope according to the invention, at least one sensor tip is disposed on the cantilever, the sensitive region of which is disposed at a distance from the cantilever

brevets / patents - wipo.int






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