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Dictionnaire technique français<>anglais / English<>French technical dictionary
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dimension critique

TRADUCTION INTEGRALE / FULL TRANSLATION
dimension critique

critical dimension

électronique / electronics - acta.es

TRADUCTION EN CONTEXTE / TRANSLATION IN CONTEXT
modélisation d'une extraction cd en microscopie électronique à balayage (cd-sem) à dimension critique

modeling critical-dimension (cd) scanning-electron-microscopy (cd-sem) cd extraction

brevets / patents - wipo.int
a partir de l'image de diffraction provenant de la diffraction du faisceau de rayonnement dans les première et seconde couches, un paramètre de métrologie de dimension critique est déterminé.

from the diffraction image originating from diffraction of the radiation beam in both the first and second layer a critical dimension metrology parameter is determined.

brevets / patents - wipo.int
la ou les caractéristiques grossières peuvent découler de la topologie souhaitée en utilisant une opération de rétrécissement-croissance effectuée uniquement dans des directions orthogonales à la dimension critique des caractéristiques au trait fin

coarse feature can be derived from the desired layout using a shrink-grow operation performed only in directions orthogonal to a critical dimension of the fine-line features

brevets / patents - wipo.int
après cela, la couche de gravure est gravée pour former un élément présentant une dimension critique inférieure à la dimension critique des éléments dans le masque photorésistant gravé.

afterwards, the etch layer is etched to form a feature having a critical dimension that is less than the critical dimension of the features in the patterned photoresist mask.

brevets / patents - wipo.int
dans un mode de réalisation, l'invention concerne un procédé de modélisation d'extraction CD en microscopie électronique à balayage (CD-SEM) à dimension critique pendant l'étalonnage d'un procédé photolithographique

one embodiment of the present invention relates to a process that models critical-dimension (CD) scanning-electron-microscopy (CD-SEM) extraction during photolithography process model calibration

brevets / patents - wipo.int
équipement à fonctionnement cassette à cassette et à sas, conçu selon les spécifications du fabricant ou optimisé pour être utilisé dans la production de dispositifs semi-conducteurs ayant une dimension critique égale ou inférieure à 180 nm.

Equipment with cassette-to-cassette operation and load-locks, and designed according to the manufacturer's specifications or optimised for use in the production of semiconductor devices with critical dimensions of 180 nm or less.

général / general - eur-lex.europa.eu

DEFINITION WIKIPEDIA (si disponible / if available)
Définition de "dimension critique"Definition of "critical dimension"






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