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TECHDICO

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measurement conditions

TRADUCTION MOT A MOT / WORD-FOR-WORD TRANSLATION
measurement: mesuremécanique / mechanical - techdico
mesuragemécanique / mechanical - lexique.mecaniqueindustrielle.com
jaugeageagriculture / agriculture - iate.europa.eu // santrans.net
métrémarché public / public contract - iate.europa.eu // santrans.net
dimensionindustrie mécanique / mechanical engineering - iate.europa.eu // santrans.net

conditions: terms and conditionstélécom / telecom - techdico
modalitémécanique / mechanical - techdico
conditionsmécanique / mechanical - lexique.mecaniqueindustrielle.com
termsfinances / finance - iate.europa.eu // santrans.net
provisionsassurance / insurance - iate.europa.eu // santrans.net

GLOSSAIRE / GLOSSARY
measurement conditions

conditions de mesure

mécanique / mechanical - techdico

TRADUCTION EN CONTEXTE / TRANSLATION IN CONTEXT

the method includes using amplification under measurement conditions that are substantially repeatable for measuring the amount of RNA corresponding to at least 1 constituent from table 1

le procédé comprend l'utilisation d'une amplification dans des conditions de mesure qui sont pour l'essentiel répétables pour la mesure de la quantité d'ARN correspondant à au moins un constituant du tableau 1

brevets / patents - wipo.int

the invention relates to a method and apparatus for detecting undesired measurement conditions in a sample container

l'invention concerne un procédé et un appareil pour détecter des conditions de mesure non souhaitées dans un contenant d'échantillon

brevets / patents - wipo.int

and a measurement parameter setting section which sets parameters that indicate measurement conditions in the measuring section

et une section de réglage de paramètres de mesure qui règle des paramètres qui indiquent des conditions de mesure dans la section de mesure

brevets / patents - wipo.int

the invention relates to a method for spatially determining the series resistance of a semiconductor structure by generating luminescent radiation in the semiconductor structure under measurement conditions a and b

l'invention concerne un procédé de détermination à résolution spatiale de la résistance en série d'une structure semi-conductrice par génération d'un rayonnement luminescent dans la structure semi-conductrice dans des conditions de mesures a et b

brevets / patents - wipo.int






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